反射率測(cè)量裝置MSP-100的特點(diǎn)介紹

發(fā)布時(shí)間：2023-11-13　點(diǎn)擊量：1354

反射率測(cè)量裝置MSP-100的特點(diǎn)介紹

以未有的低成本實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測(cè)量。

通過(guò)使用特殊的半反射鏡，可以減少背面反射光，無(wú)需背面處理即可在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行精確測(cè)量。
（可測(cè)量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物鏡時(shí)）
還可以測(cè)量鏡片曲面和涂層不均勻度。（在樣品表面連接微小點(diǎn)（φ50μm））
即使是低反射率的樣品也可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，并且具有高重復(fù)性。（光學(xué)設(shè)計(jì)捕獲最大量的光，并
通過(guò)512元件線性PDA、內(nèi)置16位A/D轉(zhuǎn)換器和USB 2.0接口的高速計(jì)算實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量。）
可以進(jìn)行色度測(cè)量和L*a*b*測(cè)量。可以使用光譜比色法根據(jù)光譜反射率來(lái)測(cè)量物體。
數(shù)據(jù)可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。
單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測(cè)量。
具有在同一屏幕上顯示多個(gè)測(cè)量結(jié)果的功能。輕松比較測(cè)量結(jié)果。