HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀
HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀，專為需要高測量精度的應用場景設計。通過保持測量頭向下恒定，消除了人為操作帶來的測量誤差，確保測量結果的穩定性和可靠性。該設備適用于超薄膜材料的測量，操作舒適且測量精度高。
高精度測量
測量分辨率：0.01μm
測量范圍：0~500μm
精度高，適合超薄膜材料的精確測量。
恒定測量壓力
測量壓力：0.14N
通過恒定壓力設計，確保測量頭與樣品接觸時壓力一致，避免因壓力變化導致的測量誤差。
特殊測量元件
測量元件：R30碳化物球形表面
碳化物材料具有高硬度和耐磨性，適合長時間使用，球形表面設計確保與樣品接觸時的穩定性和精度。
消除人為誤差
通過保持測量頭向下恒定，減少人為操作對測量結果的影響，確保測量的一致性和可靠性。
操作舒適
設計符合人體工程學，操作簡單，適合長時間使用。
| 參數 | 詳情 |
|---|---|
| 測量分辨率 | 0.01μm |
| 測量范圍 | 0~500μm |
| 測量元件 | R30碳化物球形表面 |
| 測量壓力 | 0.14N |
| 適用材料 | 超薄膜、金屬、塑料、玻璃等 |
| 測量方式 | 接觸式測量 |
| 顯示方式 | 數字顯示 |
| 數據輸出 | 支持數據導出（可選） |
半導體行業
用于測量晶圓、光刻膠等超薄膜材料。
光學薄膜
適用于鏡頭、濾光片等光學元件的薄膜厚度測量。
電子行業
用于顯示屏、觸摸屏等薄膜材料的厚度檢測。
材料研究
適用于新材料研發中的超薄膜厚度測量。
校準
定期校準設備，確保測量精度。
環境控制
避免在振動或溫度波動較大的環境中使用，以免影響測量結果。
樣品準備
確保樣品表面清潔、平整，避免雜質影響測量。
測量頭維護
定期檢查測量頭（R30碳化物球形表面）的磨損情況，必要時更換。
高精度：0.01μm的分辨率，滿足超薄膜測量需求。
穩定性：恒定測量壓力和向下恒定設計，消除人為誤差。
耐用性：R30碳化物測量元件，耐磨且壽命長。
易用性：操作簡單，適合多種材料和場景。
HKT-MASTER 0.01AA 是一款高性能的超薄膜測厚儀，適用于需要高精度和穩定性的測量場景。其設計和高質量的材料使其在半導體、光學、電子和材料研究等領域具有廣泛的應用價值。
