在半導體芯片制造、鋰電池電芯生產的核心環節中，潔凈度是決定產品良率的 “生命線"—— 哪怕是 5μm 級的微小顆粒、殘留膠痕或隱形油脂，都可能導致芯片短路、電芯性能衰減，給企業帶來巨額損失。如何精準捕捉這些肉眼難以察覺的 “隱形殺手"？日本 CSC 品牌推出的 NP-5 檢查燈，憑借硬核技術實力，成為半導體、鋰電行業潔凈檢測的 “黃金標準"，讓 5μm 顆粒無處遁形！
作為專為高中端制造潔凈檢測設計的專業設備，日本 CSC NP-5 檢查燈從光源性能到光學設計，都直擊行業痛點。其搭載的 35W 功率 HID 光源可釋放 3400 流明超高亮度，是普通 LED 燈的 3 倍，在 1m 工作距離下，能清晰覆蓋約 10m 檢測范圍，即使是懸浮在空氣中的 10μm 微粒，也能被精準識別；針對 5μm 級的附著顆粒，NP-5 通過優化光學系統，結合暗場照明技術與廷德爾現象原理，大幅增強異物與背景的對比度，讓原本隱匿的微小雜質清晰顯像，解決傳統檢測燈 “看不清、漏檢多" 的難題。
半導體晶圓清洗后的殘留檢測、鋰電池極片涂布環節的粉塵篩查、潔凈車間環境的懸浮顆粒監測……NP-5 檢查燈的適配性覆蓋半導體、鋰電生產全流程關鍵節點。更值得一提的是，它具備 UV-A/UV-B 雙波段紫外切換功能，能激發熒光粉塵、油脂等隱形污染物，實現 “可視化檢測"；搭配標準白光、紫外線截止模式，可滿足常規微粒檢測、光敏材料安全檢查等多重需求，一臺設備即可覆蓋多場景檢測任務，大幅降低企業設備投入成本。
考慮到產線現場的實際使用需求，NP-5 檢查燈在設計上盡顯人性化：燈頭僅重 200g，機身輕便可單手移動，適配線邊抽檢、設備內部死角檢測等靈活場景；防靜電機身表面電阻＜10?Ω，全符合 ISO 14644-1 Class 5 潔凈度標準，避免因靜電吸附造成二次污染；搭載德國 TüV 認證的 10 萬小時超長壽命光源，12 小時光強衰減小于 3%，無需頻繁更換光源，保障產線連續穩定運行；支持電池供電模式，無需依賴固定電源，也無需搭建暗室，隨時隨地可開展檢測工作，顯著提升檢測效率。
在半導體行業向 3nm、2nm 制程突破，鋰電池向高能量密度、長循環壽命升級的當下，對潔凈檢測的精度要求愈發嚴苛。日本 CSC NP-5 檢查燈以 “5μm 顆粒零漏檢" 的硬核實力，為半導體、鋰電企業筑牢潔凈防線 —— 從晶圓加工到電芯裝配，從車間環境驗證到成品質量抽檢，NP-5 始終是精準、可靠的檢測伙伴，助力企業提升產品良率，降低質量成本，在高中端制造賽道中穩步前行。
選擇日本 CSC NP-5 檢查燈，就是選擇 “微米級" 的潔凈守護，讓每一處細節都經得起嚴苛檢驗，為半導體、鋰電產業的高質量發展保駕護航！
