在精密制造的世界里，一個肉眼幾乎無法察覺的微塵，可能就是導致整批產品性能降級甚至報廢的元兇。尤其是在晶圓、玻璃基板、光學鏡片等平坦如鏡、價值高昂的基材上，傳統的檢測方式往往在“似乎干凈"和“確實干凈"之間留下了一片令人不安的模糊地帶。
當你在強光下側目而視，或依賴普通顯微鏡進行抽檢時，是否曾對那“應該沒問題" 的判斷心存一絲疑慮？微米級的顆粒污染物，正在這片模糊地帶中悄然潛伏，威脅著產品的良率與可靠性。
今天，這種不確定性可以被終結。日本CSC公司的Dust Finder L3SQ條形LED暗場照明檢查燈，正是為給出一個確切的、可視化的答案而誕生。
對于完1美的平坦光滑表面，傳統的正面直射光（明場照明）會使大部分光線直接反射入人眼或鏡頭，表面本身看起來非常明亮，但恰恰是這種明亮“淹沒"了微小顆粒的成像對比度。而依賴人員經驗的側光觀察，則存在光照不均、標準不一、易視覺疲勞等問題，難以實現穩定、可靠的判定。
L3SQ的核心在于運用了經典的暗場照明原理。它通過特制的條形光源，以極低的角度將高亮LED光投射到待檢表面。
對于完1美平整的區域：光線會發生鏡面反射，幾乎不會進入上方的觀察者眼中，因此背景呈現均勻的暗場。
一旦遇到微粒、劃痕或凹陷：光線會發生散射。這些散射光如同黑夜中的燈塔，清晰且明亮地進入人眼，使得污染物在暗色背景上呈現出鮮明、銳利的亮點或線紋。
這種技術路徑的轉變，從根本上改變了檢測的邏輯：它不再依賴于觀察背景反射光的強弱，而是直接捕捉污染物本身的散射信號，從而將檢測的靈敏度與可靠性提升到一個新的維度。
L3SQ提供的不僅僅是一個光源，更是一個標準化的檢測環境，它消除了人為和環境變量，讓潔凈度得以被客觀評估：
超高靈敏度：在理想條件下，能夠幫助操作人員穩定檢測到最小直徑約10微米（μm） 的顆粒物。這相當于人類紅細胞大小的級別，為早期污染預警提供了可能。
卓1越的對比度：可選配的專用綠色濾光片能進一步優化人眼視覺感受，提升信噪比，讓目標信號更為突出，大幅降低誤判和漏判率。
減輕視覺疲勞：均勻的暗場背景避免了強光直接刺激，檢查人員可以長時間工作而不易疲勞，保障了檢測質量的持續穩定。
為固定工位而生：輕巧的燈體與專用支架設計，使其能完1美集成于關鍵工藝點（如貼合前、鍍膜前、包裝前）的檢測工位，實現流程化、即時性的快速篩查。
半導體制造：在晶圓分選、封裝前，快速進行表面顆粒的非接觸式目檢抽查，及時剔除受污染單元，避免價值損失向下游傳遞。
平板顯示與觸摸屏：在玻璃基板投入光刻、CFOG/FOG等精細工藝之前，確保其表面無塵、無纖維附著，是減少Mura缺陷、提升良率的基石。
精密光學元件：對于相機模組鏡片、激光器窗口等元件，L3SQ能在組裝前揭示附著物，保障最終成像質量與光學性能。
高光表面加工：在高檔金屬面板、玻璃蓋板出廠終檢中，它是發現細微劃痕、指印和顆粒的利器，守護產品的外觀完1美度。
在質量就是生命的精密制造領域，“可能干凈"的代價我們無法承受。CSC Dust Finder L3SQ通過科學的暗場照明原理，將表面潔凈度的判定從一種依賴經驗的“估測"，轉化為一種基于可視化證據的“確定"。
它給出的，不是又一個模糊的選項，而是一個清晰的答案。當您再次面對“晶圓/玻璃基板真的干凈嗎？"這一核心質控問題時，讓L3SQ成為您值得信賴的最終裁決者。
