在光學鍍膜與顯示面板制造領域，反射率的精準測量是衡量產品性能、保障良率的關鍵環節。面對從可見光到近紅外的寬譜段檢測需求，如何選擇一臺可靠、高效且全適配的反射率測定裝置？作為Shibuya-Opt旗下覆蓋380-1050nm波段的通用型主力機型，MSP-100B 憑借其優異的綜合性能，成為眾多工程師在鍍膜與顯示質檢環節的重要工具。本文將為您深入解析，助您精準決策。
MSP-100B的核心競爭力在于其 “寬譜段覆蓋" 與 “高精度通用性" 的平衡。其380-1050nm的測量范圍，恰好完整覆蓋了人眼敏感的可見光區（約380-780nm） 以及許多光電材料與薄膜特性活躍的近紅外區。這意味著，僅用一臺設備，即可完成對產品外觀顏色（反射光譜）、光學性能（如增透膜、濾光膜效率）乃至部分近紅外功能的綜合評價，無需在多個設備間切換，極大提升了質檢流程的效率和一致性。
其關鍵技術指標，如高達±0.02%的重復精度（在451-950nm內）和最小φ50微米的測量光斑，確保了它既能應對宏觀均勻性評估，也能對微小的鍍膜瑕疵或顯示像素進行精準定位分析。
在各類鏡頭、濾光片、傳感器窗口的鍍膜工藝中，反射率是直接評判膜系設計成敗的關鍵。
增透（AR）膜評估：精確測量在目標波段（如可見光）內的剩余反射率是否達到極低的設計要求（如<0.5%），驗證其增透效果。
分光膜與反射膜驗證：檢驗特定波段（如紅外截止膜在近紅外的反射率）的反射特性是否符合設計曲線，確保分光精度。
膜層均勻性與瑕疵檢測：利用微小光斑功能，掃描膜層表面，通過反射率差異快速定位因鍍膜工藝問題導致的厚度不均、污點或損傷點。
現代顯示技術（如OLED、Micro-LED）對膜層和發光一致性要求高。
電極與功能層反射率測量：評估ITO（氧化銦錫）等透明導電電極的導電性與透光性平衡，或金屬電極的反射特性。
偏光片與圓偏光片（用于OLED）性能檢測：測量其在可見光范圍內的反射光譜，確保其光學性能滿足顯示對比度和色彩要求。
顯示均勻性輔助分析：通過對面板不同區域的微小點進行反射率測量，輔助判斷底層膜層或封裝層的均勻性，排查顯示色斑或亮度不均的潛在工藝根源。
在決定選擇MSP-100B前，請系統性地審視以下四點：
確認核心波長需求：您90%以上的測量是否集中在380-1050nm范圍內？如果您的應用深度依賴紫外（UV）或中遠紅外（IR）特性，例如專注于UV防護涂層或熱輻射管理涂層，那么需要考慮MSP-100UV或MSP-100IR型號。MSP-100B是一款強大的通用型解決方案。
評估樣品兼容性：
尺寸與形狀：MSP-100B可測量曲面樣品（最小曲率半徑±1R）和超薄樣品（薄0.2mm），非常適合鏡頭、曲面屏或柔性基底樣品。
測量區域：確認您的待測點是否大于φ50微米。對于更微觀的結構，需咨詢廠家關于更高倍率物鏡的選配可能。
匹配精度與效率要求：其高重復精度能滿足絕大多數工業質檢和研發需求。同時需考慮其測量速度（通常單點測量在數秒內）是否能匹配您的產線節拍或實驗室通量。
規劃系統集成與擴展：如果您未來計劃將其接入自動化產線，需要提前確認與機械臂、自動樣品臺的接口兼容性以及配套的自動化控制軟件方案。
Shibuya Opt MSP-100B是鍍膜與顯示行業在可見光至近紅外波段進行精密反射率質檢的可靠、高效之選。 它平衡了寬廣的譜段覆蓋、出色的精度和對復雜樣品的適應性。
