日本朝日分光asahi-spectra光學膜厚儀OMD-1000 這是一臺光譜膜厚監測儀，用于監測在用單色光進行氣相沉積過程中基板上的光量變化。它也用在我們自己的氣相沉積設備中，并作為膜厚監測設備完成，該設備具有氣相沉積零件制造商的專有技術。
日本朝日分光紅外傳感器材料的透明度測量儀TLV-304-IR 緊湊型透射測量儀，非常適合紅外接近傳感器的材料檢查過程。接近傳感器對應于850 nm的光接收波長。 *您也可以選擇940nm類型。其他波長請聯系我們。
日本asahi-spectra朝日分光滲透率測量儀TLV-304-BP 它是一種檢查器，可以立即測量固定波長的透射率
日本朝日分光高靈敏多通道光譜儀HSU-100H 它是一種多通道光譜儀，涵蓋從紫外線到近紅外（250至1100 nm）的廣泛波長范圍，并可以輕松，快速地進行光譜測量。 通過與測量單元組合，可以測量光譜透射率和反射率。
