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產(chǎn)品型號：
所屬分類：光源
產(chǎn)品時間：2025-08-01
簡要描述：日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ太陽能光譜儀S-2440modelⅡ設(shè)計用于太陽或太陽模擬器光譜輻照度的測量。儀器的光譜響應(yīng)針對太陽光譜進行了優(yōu)化，并且通過采用具有高靈敏度的檢測器、高效率的分光儀、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件，實現(xiàn)了測試的高度精que性。
日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ
摘要
太陽能光譜儀S-2440modelⅡ設(shè)計用于太陽或太陽模擬器光譜輻照度的測量。儀器的光譜響應(yīng)針對太陽光譜進行了優(yōu)化，并且通過采用具有高靈敏度的檢測器、高效率的分光儀、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件，實現(xiàn)了測試的高度精que性。
特點
新設(shè)計的電子器件
為了降低溫度和噪聲導(dǎo)致的不穩(wěn)定，所有的電子回路進行了新的設(shè)計，本產(chǎn)品不僅避免了發(fā)射的噪聲，而且抑制了回路中的噪聲。
※1. 與SOMA舊的型號的比較
針對太陽模擬器的測試進行了優(yōu)化
儀器的光譜響應(yīng)進行了調(diào)整，以保證對太陽模擬器的準確測試。為了實現(xiàn)這一特點，儀器在紫外和近紅外區(qū)域的噪音水平進行了改善。
脈沖光源的同步測量
上一代產(chǎn)品只能在脈沖開始后對光譜進行測量。本產(chǎn)品能夠在脈沖開始前對光譜進行測試。這一功能稱為事件觸發(fā)模式。
事件觸發(fā)模式通過采用重新設(shè)計的回路和軟件來實現(xiàn)。在這一模式下，儀器對光譜進行連續(xù)測試。因此，脈沖前的光譜可以回歸得到，并且也可以得到脈沖后的光譜。計時信號由嵌入反射型擴散板的硅光電二極管產(chǎn)生。計時信號和光強水平可以在0.01~1sun范圍內(nèi)進行調(diào)整。
采用顯著余弦特征的反射型擴散板
尺寸：H15×W60×D80/φ40mm
高持久耐用并且易于保持其特點。本產(chǎn)品具有強的反射和顯著地余弦特征。
注意：當(dāng)光纖和擴散器更換時，需要對儀器進行重新校準。
光譜匹配評價標準
JIS C 8912-2011/IEC 60904-9(ED-2)-2007 （結(jié)晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器）
JIS C 8933-2011（非結(jié)晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器）
JIS C 8942-2009 （多結(jié)太陽能電池及組件的太陽模擬器）
ASTM（Direct AM1.5、Global AM1.5）-2009
所有標準的太陽模擬器的光譜匹配評價均可實現(xiàn)。
光譜匹配（A,B,C）可以在測試之后立即計算。
日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ
光譜輻照度的測試軟件
測試參數(shù)
光譜輻照度（μW/cm2/nm）：測試數(shù)據(jù)以曲線圖的形式示于顯示器中，文本數(shù)據(jù)（間隔1nm）也可以得到。
光譜匹配度：數(shù)據(jù)列表中的任意光譜數(shù)據(jù)均可以進行評價。所選取的數(shù)據(jù)的光譜匹配度可以立即示于顯示器中。測試模式
基本測試 主要用于連續(xù)光測試
重復(fù)測試 可固定時間間隔重復(fù)測試
事件引發(fā)模式 用于發(fā)射脈沖測試，引發(fā)脈沖前后的光譜均可得到。
標準測試 通過對比標準發(fā)光器的光譜輻照度對產(chǎn)品進行校正。
事件引發(fā)模式
事件引發(fā)模式檢測器
可以觀察引發(fā)脈沖的波形
引發(fā)脈沖的光強可以從0.01~1sun范圍內(nèi)進行調(diào)整。調(diào)整可以通過拖動滑塊SW方便操作。
可以選擇引發(fā)脈沖前后光譜的數(shù)目
可以選擇引發(fā)脈沖之后延遲的時間
標準配置
主機
附光纖反射型擴散板（L=0.9m）
觸發(fā)器線纜（L=0.9m）
光譜輻照度測試軟件
USB線纜（L=2.0m）
交流電適配器（LTE24E-S2-3）
檢驗單
主要規(guī)格
型號 | S-2440 model Ⅱ/HIDAMARI mini |
波長 | 300~1100nm |
半波長 | 5nm |
曝光時間 | 1~1000毫秒 |
入射光學(xué)系統(tǒng) | 附光纖反射型擴散板（L=0.9） PTFE φ40mm 光纖（石英，核心φ0.8mm） 注：附光纖反射型散射板無法與主機斷開 |
測試項目 | 分光輻射照度測定（μW/cm2/nm），光譜匹配度評價 光譜匹配度評價標準： JIS C 8912-2011，JIS C 8933-2011， JIS C 8942-2009，IEC 60904-9(ED-2)-2007，ASTM（Direct AM1.5、Global AM1.5）-2009 |
測試模式 | 基本測試 重復(fù)測試 事件引發(fā)模式 標準測定 |
操作系統(tǒng) | Windows8/7/Vista（32位，64位） （個人計算機不包括在內(nèi)） |
交流/直流轉(zhuǎn)換器 | ADC 16位 |
通訊接口 | USB 2.0 |
數(shù)據(jù)格式 | CSV文本數(shù)據(jù)（數(shù)據(jù)以每1nm輸出） |
數(shù)據(jù)保存 | 高達1000個光譜數(shù)據(jù) |
溫度和濕度 | 10~35℃，相對濕度80%或更低，無凝結(jié) |
電源 | 直流電12V 2A |
功率損耗 | 交流電100~240V 50/60Hz （直流電適配器 LTE24E-S2-3） |
尺寸/重量 | 19（H）×210（W）×（D）/5kg |
選項 | 標準光源裝置，漫反射面固定裝置 |
