日本stil雙重技術光譜共焦點傳感器STIL-DUO
STIL DUO ---雙重技術“點”傳感器
Ø *yi個提供兩種同時測量技術的系統：光譜共焦原理 和 具備原始共焦設置的白光干涉原理。
Ø STIL的光譜共焦原理可測量范圍從130µm到42mm。非常適用于粗糙度和表面形貌測量，在任何類型的材料上都可獲得非常高的精que度，無論是反射還是散射。測量符合新ISO25178標準。
Ø STIL的共焦光譜干涉測量法，可獲得亞納米分辨率（<1nm）的厚度和形貌測量結果，可在大于100µm的測量范圍內進行測量，且樣品的小可測厚度為0.4µm。
Ø 完美適用于工業環境，許多輸入和輸出以及軟件開發套件，接口非常簡單。?
- 振動不敏感（OPILB-RP光學筆）
- 高信噪比（OPILB-RP光學筆）
- 不需垂直掃描
- 小可測厚度0.4µm
- 光學原理固有的亞納米分辨率
- 共焦使相鄰點之間無干擾，
- 厚度測量上具有卓yue性能（0.3nm分辨率，10nm精度
- 使用Multipeak軟件進行多層樣品測量
日本stil雙重技術光譜共焦點傳感器STIL-DUO
參數
Ø *yi個提供兩種同時測量技術的系統：光譜共焦原理 和 具備原始共焦設置的白光干涉原理。
Ø STIL的光譜共焦原理可測量范圍從130µm到42mm。非常適用于粗糙度和表面形貌測量，在任何類型的材料上都可獲得非常高的精que度，無論是反射還是散射。測量符合新ISO25178標準。
